隨著中國電氣工業(yè)的飛速發(fā)展，環(huán)境校正和高壓絕緣實驗的調度水平也有了很大提高。文主要通過分析海拔高度和大氣條件對高壓產品外部絕緣實驗高壓的影響，對環(huán)境校正過程進行分析，電纜為行業(yè)發(fā)展提供參考。國電器。進行絕緣的外部檢查時，許多高壓產品必須在實驗過程中考慮大氣條件和產品的高度。于氣隙和固體絕緣材料的放電電壓從設備泄漏，放電電壓受大氣條件和海拔高度，大氣條件以及溫度變化的影響。度，外部絕緣的破壞性放電電壓也會隨之變化，因此在測試產品的外部絕緣時，必須調整標準絕緣測試的電壓。據(jù)先前實驗人員的校正因子的計算，取決于當時的大氣條件，可以找到GB / T 1627·1的中性空氣密度和環(huán)境溫度變化的圖表，并且獲得最終的校正結果。種工作方式不僅要花費時間，而且很容易產生計算錯誤，這會影響計算結果的準確性。開發(fā)的新軟件使用最小二乘法的原理調整曲線，并使用VB更改方法。GB / T 1627·1的相關曲線調整為一個函數(shù)后，即可在環(huán)境參數(shù)中使用。
　　速獲得所需的校正結果。于最小二乘平移曲線的高精度要求，其誤差遠小于每次檢查產生的視覺誤差，可以使計算結果更加真實準確。
　　部絕緣的破壞性放電電壓與實驗中使用的大氣條件的變化有很大關系。驗表明，空氣中的放電電壓隨密度而變化。際上，隨著密度的變化，空氣中電子的平均速度也會變化，并且電氣過程似乎會變弱或改善。氣密度對放電電壓的影響相對較小，但是濕度對放電電壓的影響相對復雜。驗表明，均勻電場中空氣的放電電壓隨濕度的增加而增加，但上升速度非常慢，幾乎不受濕度的影響。是，在特別不均勻的電場中，空氣中濕度的增加對氣隙的擊穿電壓有很大的影響。電電壓與濕度有很大的關系，因為水分子吸引電子形成負粒子。旦電子形成負粒子，自由運動也將大大減少，并且在電場中產生電的能力也會減弱。著濕度的增加，由電子形成的負離子被水分子吸引的比例相對增加，間隔中的電能作用也降低，從而導致電壓升高放電。場強度越高，電子移動得越快，并且產生負離子的可能性就越大。均勻電場中，平均放電場的強度高，濕度的影響相對較小。非常不均勻的電場中，平均放電場的強度相對較低，因此濕度的影響不夠明顯。

　　此，在均勻且略微不均勻的電場中，濕度的影響相對較小。非常不均勻的電場（氣隙和絕緣子）中，它們的放電電壓通常隨濕度的變化而變化。濕度超過一定值時，在不規(guī)則放電情況下會出現(xiàn)放電電壓，特別是絕緣表面層上的電壓旁路電壓，并且分散變得更大。實驗中，實驗者應特別注意。于高壓產品，由于測試地點的海拔高度和使用地點不同，因此必須在實驗中校正海拔高度。果海拔升高，空氣密度降低，因此測試電壓的影響與空氣密度對測試電壓的影響之間會有很大的連貫性。
　　正因子可用于轉換標準大氣條件下的指定實驗電壓值，以滿足測試條件的需求。反地??，所測量的旁路電壓值的標準值也可以在標準參考氣氛的條件下轉換為電壓值。負高壓產品的外部絕緣實驗中，通常研究產品在實驗中抵抗張力的能力，并且通常將標準實驗張力計算為實驗條件所需的張力值。際上，產品的外部絕緣的電壓值U是通過在標準參考氣氛下將測試電壓U0乘以K得出的：U = U0×K，其中K由兩部分組成，其中是大氣條件下的校正因子Kt。
　　拔校正因子Ka：K = Kt×Ka。部絕緣的破壞性放電取決于大氣條件，通常，空氣中給定路徑的破壞性放電電壓會隨著空氣密度和濕度的變化而變化。此，在外部絕緣的高壓測試中，必須考慮實際大氣條件與標準大氣條件之間的差異，并且必須通過大氣條件校正因子Kt來校正標準耐壓大氣條件校正因子Kt由空氣密度校正因子K1和濕度校正因子K2兩部分組成：Kt ＝ K1×K2。氣密度校正因子K1取決于相對空氣的相對密度δ，其表達式為：K1 =δm。溫度為t（℃）且大氣壓為b（kPa）時，空氣的相對密度為：δ= b（273 t0）/ [b0（273 t）]。度校正因子K2的表達式為：K2 = Kw。此，K不是環(huán)境校正因子。K取決于測試電壓的類型，并且是絕對濕度h與空氣相對密度δ之比h /δ的函數(shù)。以使用最小二乘曲線來近似。h / 8值大于15 g·m-3的濕度校正仍在研究中。引w也在下面給出。引m和w鏈接到另一個特征參數(shù)g：g = Ub /500LδK。中：Ub是指在實際大氣條件下的50％破壞性放電電壓值（測量或估算）。
　　耐力測試中，可以假定它是測試電壓值的1.1倍；空氣δ的相對密度和參數(shù)K為實數(shù)值。L是被測物的絕緣的最短放電路徑，是m，w與特性參數(shù)g的關系曲線。壓產品的外部絕緣的破壞性放電也與測試地點的高度有關。據(jù)經驗數(shù)據(jù)，對于海拔高于1000 m且不超過4000 m的設備的外部絕緣，每增加100 m高度，絕緣電阻將降低約1％，并且高度校正因子Ka的表達式為：Ka = em（（H- 1000）/ 8150]。

　　
　　中，m與大氣因子相同，M是關于頻率的兩個完全獨立的參數(shù)公式功率，雷電脈沖和相之間的工作脈沖電壓之間的關系，m = 1;相對于縱向絕緣的工作脈沖電壓，m = 0.9;相對于相對電壓地面操作脈沖的變化，m = 0.75在軟件設計中，基于測試人員簡化操作的原理，在WINXP平臺上使用VB6.0創(chuàng)建了簡單明了的界面。件初始化它由環(huán)境參數(shù)輸入和測試參數(shù)輸入兩部分組成，對話框形式的圖形屏幕直觀易用。據(jù)處理和計算。輸入環(huán)境和測試數(shù)據(jù)分配給相應的變量，然后使用最小二乘法調整計算校正因子所需的曲線的表達式。據(jù)高壓測試技術第一部分的一般測試要求所要求的計算原理，通過VB編程計算校正值，最終因子結果顯示在界面的文本區(qū)域中。界面文本中的計算結果可以訪問，打印，修改，編輯等，并且可以根據(jù)顯示的需要修改參數(shù)。能圖包括三個級別：程序初始化，數(shù)據(jù)處理和后處理。于初始化部分，在測試過程中主要輸入溫度，濕度，大氣壓力，海拔高度和標準大氣條件下的測試電壓，然后輸入環(huán)境校正因子和電壓數(shù)據(jù)。需的測試通過數(shù)據(jù)處理部分獲得，最后通過打印和其他后處理獲得。面結果。小二乘法是一種數(shù)學優(yōu)化技術，它通過最小化平方誤差的總和來找到數(shù)據(jù)集的最佳函數(shù)匹配。定基本原理一個數(shù)據(jù)點{（xi，yi）}（i = 1，2，...，m）和一組函數(shù)gk（x）（k = 1，2，...， n）找出數(shù)字a1，a2，...，an（假設m> n），做函數(shù)p（x）= a1g1（x） a2g2（x） ... angn（x）數(shù)據(jù)點的二次誤差之和算術的平方根最小。小二乘方法的優(yōu)點是該方法簡單，計算速度快，沒??有截斷誤差，沒有算法穩(wěn)定性的問題，它具有對誤差的中等影響和測量精度也很高。小二乘法通常用于曲線擬合。
　　過調整，您可以計算一些未知中間點的值或預測此數(shù)據(jù)范圍之外的值。而言之，本文通過介紹環(huán)境校正和程序性介紹高壓外部絕緣測試，分析了高壓外部絕緣子在中國電氣行業(yè)中的重要作用。工會為原始的高壓測試計算校正因子，這會導致諸如數(shù)據(jù)不準確之類的問題，程序技術可以通過使用最小二乘法調整曲線并改進來完成數(shù)據(jù)整理任務。率數(shù)據(jù)的準確性。源工業(yè)的發(fā)展提供了技術支持。
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